第１２回「イオンビームによる表面・界面解析」特別研究会

 主催

応用物理学会　薄膜・表面物理分科会

 共催、協賛

 日本物理学会、他２学協会協賛

 開催期日

 2011年12月9日(金)～10日(土)

 開催場所

 東京大学　生産技術研究所

〒153-8505　東京都目黒区駒場4-6-1

TEL: 03-5452-6132

URL: http://www.iis.u-tokyo.ac.jp/access/access.html

 内容

低・中・高エネルギーイオン散乱による固体表面・界面の分析、およびイオ

ンビームと固体表面との相互作用。招待講演：数件、一般講演：１０数件

程度。

詳細はhttp://annex.jsap.or.jp/tfspd/activity/conf/index.html

を参照してください。プログラムなどは，決定次第掲載の予定です。

 参加費

 一般　2,000円、応用物理学会 薄膜・表面物理分科会会員　1,000円、

 学生　無料

参加申込方法

講演を申し込まれる場合は、A4で1頁のアブストラクトと講演者氏名、連絡先を下記までe-mailでお送り下さい。

講演申込締切：2011年11月11日(金)

参加申込締切：2011年12月2日(金）

 連絡先

〒153-8505 東京都目黒区駒場4-6-1

東京大学 生産技術研究所 Markus　Wilde

FAX: 03-5452-6159

TEL: 03-5452-6148

e-mail: wilde@#-NO-SPAM-#iis.u-tokyo.ac.jp

（メールアドレスは「#-NO-SPAM-#」を削除してご利用ください）

 その他